Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications - Greg Haugstad - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9780470638828 - 2012年10月16日
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Greg Haugstad
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications

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This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).

488 pages, Illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2012年10月16日
ISBN13 9780470638828
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 496
寸法 163 × 244 × 31 mm   ·   794 g
言語 英語  

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