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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Greg Haugstad
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Greg Haugstad
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).
488 pages, Illustrations
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2012年10月16日 |
| ISBN13 | 9780470638828 |
| 出版社 | John Wiley & Sons Inc |
| ページ数 | 528 |
| 寸法 | 163 × 244 × 31 mm · 794 g |
| 言語 | 英語 |
