Microstructural Characterization of Materials - Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology) - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9780470027851 - 2008年6月10日
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Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology)
Microstructural Characterization of Materials 第2 版

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Microstructural characterization is usually achieved by allowing some form of probe to interact with a carefully prepared specimen. The most commonly used probes are visible light, X-ray radiation, a high-energy electron beam, or a sharp, flexible needle.

550 pages, black & white illustrations, colour illustrations, black & white tables, figures

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2008年6月10日
ISBN13 9780470027851
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 560
寸法 169 × 245 × 30 mm   ·   914 g
言語 英語  

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