Applied Charged Particle Optics: Part II - Advances in Imaging and Electron Physics -  - 書籍 - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780443471124 - 2026年9月24日
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Applied Charged Particle Optics: Part II - Advances in Imaging and Electron Physics


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メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2026年9月24日
ISBN13 9780443471124
出版社 Elsevier Science Publishing Co Inc
ページ数 252
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   450 g
シリーズ編集者 Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)
シリーズ編集者 Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France)

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