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Applied Charged Particle Optics: Part II - Advances in Imaging and Electron Physics
Applied Charged Particle Optics: Part II - Advances in Imaging and Electron Physics
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2026年9月24日 |
| ISBN13 | 9780443471124 |
| 出版社 | Elsevier Science Publishing Co Inc |
| ページ数 | 252 |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 450 g |
| シリーズ編集者 | Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France) |
| シリーズ編集者 | Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France) |
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