Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective - Eugene R. Hnatek - 書籍 - Kluwer Academic Publishers Group - 9780442006433 - 1993年8月31日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective 1993 edition

価格
¥ 16.540
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年10月9日 - 年10月21日
Eugene R. Hnatek の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a


180 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1993年8月31日
ISBN13 9780442006433
出版社 Kluwer Academic Publishers Group
ページ数 180
寸法 156 × 234 × 12 mm   ·   476 g
言語 英語  

Eugene R. Hnatekの他の作品を見る

すべて表示

同じ出版社からのその他の記事