Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 2006年6月28日
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Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition

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Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

282 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2006年6月28日
ISBN13 9780387400907
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 282
寸法 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

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