Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387258003 - 2005年8月3日
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R.F. Egerton
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition

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Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

216 pages, 122 black & white illustrations, 5 black & white tables, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2005年8月3日
発売日 2008
ISBN13 9780387258003
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 202
寸法 155 × 235 × 14 mm   ·   430 g
言語 英語  
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