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Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation 第1 版
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Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation
Neutron and synchrotron X-ray diffraction have emerged as leading techniques for stress analysis. This book presents an overview of the principles of these techniques and examples of their applications to a range of materials and engineering problems. It contains 20 papers from leading international experts in residual stress analysis covering the
368 pages
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2020年6月30日 |
| ISBN13 | 9780367446802 |
| 出版社 | Taylor & Francis Ltd |
| ページ数 | 368 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 680 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Fitzpatrick, M.E. |
| 編集者 | Lodini, Alain |