Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation -  - 書籍 - Taylor & Francis Ltd - 9780367446802 - 2020年6月30日
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Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation 第1 版

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Neutron and synchrotron X-ray diffraction have emerged as leading techniques for stress analysis. This book presents an overview of the principles of these techniques and examples of their applications to a range of materials and engineering problems. It contains 20 papers from leading international experts in residual stress analysis covering the


368 pages

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2020年6月30日
ISBN13 9780367446802
出版社 Taylor & Francis Ltd
ページ数 368
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   680 g
言語 英語  
編集者 Fitzpatrick, M.E.
編集者 Lodini, Alain

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