Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, - Lawrence E. Murr - 書籍 - Taylor & Francis Ltd - 9780367402945 - 2019年10月29日
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, 第2 版

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The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr


856 pages

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2019年10月29日
ISBN13 9780367402945
出版社 Taylor & Francis Ltd
ページ数 856
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   453 g
言語 英語  
編集者 Murr, Lawrence E

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