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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach Pradeep Lall 第1 版
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Pradeep Lall
This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.
336 pages
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2019年6月19日 |
| ISBN13 | 9780367400972 |
| 出版社 | Taylor & Francis Ltd |
| ページ数 | 336 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 453 g |
| 言語 | 英語 |
