この商品を友人に教える:
Optical Inspection of Microsystems 第1 版
価格
¥ 12.302
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年8月11日 - 年8月27日
iMusicのウィッシュリストに追加
Optical Inspection of Microsystems
This book offers a timely review of research into applying optical measurement techniques for microsystems. These techniques are non-invasive and fieldwise in character and have high sensitivity, accuracy, and resolution of data points. This text presents state-of-the-art methods of optical analysis and enumerates their basic components.
503 pages, 375 equations; 230 Halftones, black and white; 23 Tables, black and white; 479 Illustrati
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2019年10月17日 |
| ISBN13 | 9780367390570 |
| 出版社 | Taylor & Francis Ltd |
| ページ数 | 532 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 453 g |
| 言語 | 英語 |
| シリーズ編集者 | Thompson, Brian J. (University of Rochester, New York, USA) |
