Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications - - 書籍 - Taylor & Francis Ltd - 9780367197360 - 2020年12月21日
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications 第1 版

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This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.

184 pages, 7 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 81 Illustrations, black and white

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2020年12月21日
ISBN13 9780367197360
出版社 Taylor & Francis Ltd
ページ数 150
寸法 241 × 159 × 17 mm   ·   406 g
言語 英語  
編集者 Bruma, Alina (University of Maryland College Park)

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