Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - A W Czanderna - 書籍 - Springer Science+Business Media - 9780306458965 - 1998年10月31日
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A W Czanderna
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition

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The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

430 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1998年10月31日
ISBN13 9780306458965
出版社 Springer Science+Business Media
ページ数 430
寸法 156 × 234 × 25 mm   ·   811 g
編集者 Czanderna, Alvin W.
編集者 Madey, Theodore E.
編集者 Powell, Cedric J.

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