Hideo Fujiwara
Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series Hideo Fujiwara

Name: Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series
Price: 7833 JPY
Availability: OutOfStock
Author: Hideo Fujiwara

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Logic Testing and Design for Testability - Computer Systems Series

Hideo Fujiwara

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

304 pages, black & white tables, figures

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	1985年7月31日
ISBN13	9780262561990
出版社	MIT Press Ltd
ページ数	304
寸法	152 × 229 × 25 mm · 408 g
言語	英語