Assessment Sensitivity: Relative Truth and its Applications - Context & Content - MacFarlane, John (University of California, Berkeley) - 書籍 - Oxford University Press - 9780198776819 - 2016年4月14日
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MacFarlane, John (University of California, Berkeley)
Assessment Sensitivity: Relative Truth and its Applications - Context & Content

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John MacFarlane explores how we might make sense of the idea that truth is relative. He provides new, satisfying accounts of parts of our thought and talk that have resisted traditional methods of analysis, including what we mean when we talk about what is tasty, what we know, what will happen, what might be the case, and what we ought to do.

368 pages

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2016年4月14日
ISBN13 9780198776819
出版社 Oxford University Press
ページ数 362
寸法 253 × 158 × 21 mm   ·   566 g

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