Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)

Name: Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
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Author: Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)

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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)

Helps you educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level.

108 pages, black & white illustrations

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2014年3月21日
ISBN13	9780128007471
出版社	Elsevier Science Publishing Co Inc
ページ数	108
寸法	154 × 228 × 6 mm · 154 g
言語	英語