Advances in Imaging and Electron Physics: Theory of Intense Beams of Charged Particles - Advances in Imaging and Electron Physics - - 書籍 - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780123813107 - 2011年6月21日
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Advances in Imaging and Electron Physics: Theory of Intense Beams of Charged Particles - Advances in Imaging and Electron Physics

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Features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in these domains.

752 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2011年6月21日
ISBN13 9780123813107
出版社 Elsevier Science Publishing Co Inc
ページ数 752
寸法 152 × 229 × 40 mm   ·   1,17 kg
シリーズ編集者 Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and is a Fellow of the Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and serial editor of Advances in Electron Optics)