Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials - Choong-Un Kim - 書籍 - Elsevier Science & Technology - 9780081016961 - 2011年9月11日
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Choong-Un Kim
Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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352 pages

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年9月11日
発売日 2016
ISBN13 9780081016961
出版社 Elsevier Science & Technology
ページ数 352
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   494 g
編集者 Kim, Choong-Un (University of Texas at Arlington, USA)

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