Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - - 書籍 - Springer, India, Private Ltd - 9788132234241 - 2016年10月23日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

価格
¥ 17.044
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 2026年1月13日 - 2026年1月23日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2016年10月23日
ISBN13 9788132234241
出版社 Springer, India, Private Ltd
ページ数 269
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g
編集者 Mahapatra, Souvik