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VLSI Design and Test for Systems Dependability 1st ed. 2019 edition
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VLSI Design and Test for Systems Dependability
This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.
800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800
| メディア | 書籍 Book |
| リリース済み | 2018年8月1日 |
| ISBN13 | 9784431565925 |
| 出版社 | Springer Verlag, Japan |
| ページ数 | 800 |
| 寸法 | 164 × 242 × 50 mm · 1,38 kg |
| 編集者 | Asai, Shojiro |