Helium Ion Microscopy - NanoScience and Technology - - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319824734 - 2018年6月16日
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Helium Ion Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

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This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. The expert reader will find a complete reference of the technique covering all important applications in several chapters written by the leading experts in the field.

526 pages, 100 Tables, color; 204 Illustrations, color; 116 Illustrations, black and white; XXIII, 5

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年6月16日
ISBN13 9783319824734
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 526
寸法 156 × 234 × 32 mm   ·   814 g
言語 ドイツ語  
編集者 Golzhauser, Armin
編集者 Hlawacek, Gregor

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