Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 2017年12月4日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

価格
¥ 17.028
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年7月27日 - 年8月6日
Sayil の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

メディア 書籍     Book
リリース済み 2017年12月4日
ISBN13 9783319696720
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 93
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
言語 ドイツ語  

同じ出版社からのその他の記事

Sayilのすべてを見る ( 例： Book )