Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering - Xiao Liu - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319375946 - 2016年8月23日
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

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This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.


123 pages, 21 black & white illustrations, 38 colour illustrations, 18 black & white tables, biograp

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2016年8月23日
ISBN13 9783319375946
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 108
寸法 155 × 235 × 7 mm   ·   185 g

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