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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering Xiao Liu Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering
Xiao Liu
This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.
123 pages, 21 black & white illustrations, 38 colour illustrations, 18 black & white tables, biograp
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2016年8月23日 |
| ISBN13 | 9783319375946 |
| 出版社 | Springer International Publishing AG |
| ページ数 | 108 |
| 寸法 | 155 × 235 × 7 mm · 185 g |
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