Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 2022年4月20日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

価格
¥ 18.793
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年6月29日 - 年7月9日
iMusicのウィッシュリストに追加

他の形態でも入手可能:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2022年4月20日
ISBN13 9783030692117
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 164
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
言語 ドイツ語  

Sebastian Huhnの他の作品を見る

すべて表示

Mere med samme udgiver