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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2022年4月20日 |
| ISBN13 | 9783030692117 |
| 出版社 | Springer Nature Switzerland AG |
| ページ数 | 164 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 296 g |
| 言語 | ドイツ語 |
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