Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - 2019年8月24日
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

メディア 書籍     Book
リリース済み 2019年8月24日
ISBN13 9783030156114
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 408
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
言語 ドイツ語  
編集者 Celano, Umberto