Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 2019年2月1日
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Ireneusz Mrozek

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

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This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2019年2月1日
ISBN13 9783030081980
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 135
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
言語 ドイツ語  

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