Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - 書籍 - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 2016年8月12日
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Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2016年8月12日
ISBN13 9781848219366
出版社 ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
ページ数 320
寸法 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

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