Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - 書籍 - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 2021年4月6日
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Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

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288 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2021年4月6日
ISBN13 9781786306876
出版社 ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
ページ数 288
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
言語 英語  

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