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Failure Analysis: High Technology Devices - De Gruyter STEM Daniel J. D. Sullivan
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Failure Analysis: High Technology Devices - De Gruyter STEM
Daniel J. D. Sullivan
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
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| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2022年10月24日 |
| ISBN13 | 9781501524783 |
| 出版社 | De Gruyter |
| ページ数 | 128 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 238 g |
| 言語 | 英語 |