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Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Jeroen A. Croon Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition
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Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Jeroen A. Croon
The model is illustrated by dimensioning the unit current cell of a current-steering D/A converter. The most commonly used methods to extract the matching properties of a technology are bench-marked with respect to model accuracy, measurement accuracy and speed, and physical contents of the extracted parameters.
218 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2010年12月1日 |
| ISBN13 | 9781441937186 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 206 |
| 寸法 | 160 × 240 × 11 mm · 312 g |
| 言語 | 英語 |
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