Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications - Rene David - 書籍 - Taylor & Francis Inc - 9780824701826 - 1998年4月8日
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Rene David
Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications 第1 版

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"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "

496 pages, bibliography, illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1998年4月8日
ISBN13 9780824701826
出版社 Taylor & Francis Inc
ページ数 500
寸法 152 × 229 × 29 mm   ·   853 g
言語 英語  

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