Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Sorin Cristoloveanu - 書籍 - Kluwer Academic Publishers - 9780792395485 - 1995年6月30日
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Sorin Cristoloveanu
Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

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Describes a variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect identification to detailed device evaluation. This book provides a comprehensive treatment of different aspects of SOI technologies, including material synthesis, device physics, characterization, circuit applications, and reliability issues.

396 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1995年6月30日
ISBN13 9780792395485
出版社 Kluwer Academic Publishers
ページ数 396
寸法 156 × 234 × 22 mm   ·   734 g
言語 英語  
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