Electromigration and Electronic Device Degradation - A Christou - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9780471584896 - 1994年1月14日
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A Christou
Electromigration and Electronic Device Degradation

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This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.

344 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1994年1月14日
ISBN13 9780471584896
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 343
寸法 160 × 240 × 20 mm   ·   684 g
言語 英語  
編集者 Christou, Aris (CALCE Electronic Packaging Research Center, University of Maryland)

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