この商品を友人に教える:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences Shih-Lin Chang 2004 edition
価格
¥ 25.232
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年7月1日 - 年7月13日
iMusicのウィッシュリストに追加
他の形態でも入手可能:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences
Shih-Lin Chang
X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.
436 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2004年6月24日 |
| ISBN13 | 9783540211969 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 436 |
| 寸法 | 156 × 234 × 25 mm · 807 g |
| 言語 | ドイツ語 |