Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319819860 - 2018年5月30日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

R.F. Egerton
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

価格
元 455
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年12月22日 - 2026年1月1日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

他の形態でも入手可能：

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年5月30日
ISBN13 9783319819860
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 196
寸法 234 × 156 × 16 mm   ·   334 g
言語 ドイツ語  
すべて表示

R.F. Egertonの他の作品を見る

R.F. Egertonのすべてを見る ( 例： Hardcover Book および Paperback Book )